表面光電壓譜測(cè)試系統(tǒng)應(yīng)用方案
光生電荷特性的研究對(duì)很多光電材料與器件的應(yīng)用開(kāi)發(fā)具有重要意義，如各種新型太陽(yáng)能電池、新型高速光電探測(cè)器，以及新型光催化與光電催化材料中光誘導(dǎo)載流子的傳輸、復(fù)合、電荷轉(zhuǎn)移特性的研究等。表面光電壓技術(shù)是基于表面光伏效應(yīng)進(jìn)行測(cè)量的方法,稱(chēng)之為表面光伏技術(shù)(Surface Photovoltaic Technique, 簡(jiǎn)稱(chēng) SPV 技術(shù))或表面光電壓譜(Surface Photovoltaic Spectroscopy，縮寫(xiě)為SPS)，被廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體光生電荷的壽命、表面電勢(shì)、導(dǎo)電類(lèi)型、異質(zhì)結(jié)電荷轉(zhuǎn)移，少數(shù)載流子擴(kuò)散長(zhǎng)度等參數(shù)的光學(xué)測(cè)量。[1,2] 本文介紹了卓立漢光基于寬光譜可調(diào)單色光源的一體化表面光電壓譜測(cè)試系統(tǒng)，以滿(mǎn)足多種不同類(lèi)型光電材料的表面光電壓表征與研究的測(cè)量需求。
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