簡介
激光誘導(dǎo)擊穿光譜實(shí)驗(yàn)是通過超短脈沖激光聚焦樣品表面形成等離子體,對(duì)等離子體發(fā)射光譜進(jìn)行分析來確定樣品的物質(zhì)成分及含量。超短脈沖激光聚焦后能量密度較高,可以將任何物態(tài)(固態(tài)、液態(tài)、氣態(tài))的樣品激發(fā)形成等離子體,LIBS技術(shù)(原則上)可以分析任何物態(tài)的樣品,僅受到激光的功率以及探測(cè)光譜儀的靈敏度和波長范圍的限制。幾乎所有的元素被激發(fā)形成等離子體后都會(huì)發(fā)出特征譜線,因此,LIBS可以分析大多數(shù)的元素。基本原理
產(chǎn)品介紹
探測(cè)波段范圍:200-900nm(其他波段可選),全國產(chǎn)iCMOS相機(jī)
光學(xué)分辨率:<0.1nm,更小值可選
最短門控:3ns,采用全國產(chǎn)iCMOS相機(jī)
延遲與門控精度:10ps
激光器能量:50、100、200、400mj等可選
波長重復(fù)精度:0.01nm
三維位移臺(tái):行程 可選
支持定制真空腔光路,樣品氣體吹掃等功能
光譜顯示(峰值、半高寬)、譜線識(shí)別、文件自動(dòng)保存
自動(dòng)聚焦功能
Mapping功能
樣品圖像實(shí)時(shí)顯示
完整、安全的外罩設(shè)計(jì),便于運(yùn)輸和現(xiàn)場(chǎng)開箱即用。
同軸、異軸硬件框架設(shè)計(jì),靈活適配科研實(shí)驗(yàn)需求。
依照不同的實(shí)驗(yàn)室測(cè)量精度要求可靈活搭配激光器、光譜儀以及快速門控相機(jī)
基于激光和視覺算法的自動(dòng)對(duì)焦系統(tǒng),對(duì)樣品表面實(shí)時(shí)跟蹤實(shí)現(xiàn)LIBS的自動(dòng)跟焦和Mapping。
軟件界面突出Mapping和定量元素分析的特色,實(shí)時(shí)顯示元素Mapping分布圖。
應(yīng)用領(lǐng)域
礦產(chǎn)(煤質(zhì)分析)、冶金、爐渣等金屬物質(zhì)的成分探測(cè)推薦搭配
顯微鏡模塊,用于微觀樣品的測(cè)量以及分析可升級(jí)功能
Raman光譜與MappingCopyright ? 2020 Zolix .All Rights Reserved 地址:北京市通州區(qū)中關(guān)村科技園區(qū)通州園金橋科技產(chǎn)業(yè)基地環(huán)科中路16號(hào)68號(hào)樓B.
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